本设备集成了LIV、光谱、NA占比及光斑发散角自动测试等功能。

LIV测试：采用积分球配合PD光敏方式对激光器光功率进行测量，可确保快速响应获得实时准确功率。采用宽域值PD，可测量激光波长范围宽至350nm～1100nm，覆盖了常用半导体激光器波长范围。采用电流扫描模式（也可选用某个固定电流或功率值模式），对激光器 LIV 参数（光功率、电流、电压等）一次性完成测量，绘制LIV曲线，获得激光器的各种关键参数指标，对激光器的元器件及耦合封装优良合格及好坏做出判定。

光谱测试：在LIV测试的同时，可测量激光器波长范围在 350nm～1100nm 的光谱，获得峰值波长、中心波长、各种能量占比下的光谱宽度等。

NA占比及光斑发散角测试：设定工作电流，可拍照分析光斑测出各种能量占比下的XY向发散角及NA值；同时也可反过来得到各种NA值对应的能量占比。

系统功能：

• 测试界面有信息输入界面，比如能录入ERP编码、随工单号、产品型号、产品编号、波长、负载数量、产品状态、出厂编号；
• 产品状态分类，比如老化前、老化后、终测等；
• 自动绘制 LIV 曲线图；
• 实时绘制光谱图；
• PASS/FAIL 自动判断并提示；
• 手动测试和自动测试可选；
• 自动生成 LIV、光谱数据；
• 自动生成测试报告并打印；
• 测试数据的全面分析；
• 自动演算多种特征性能参数；
• 测试过程中，提供实时激光模组测试的停止和重新开启功能；
• 数据查询功能，根据录入任意一项信息，查询包括功率、光谱及光斑测试相关数据；
• 能计算产品不同状态下的功率变化率情况。

本设备集成了LIV、光谱、NA占比及光斑发散角自动测试等功能；

测试产品可快速压装，满足不同厂家不同的管壳形式和大小；

可兼容大功率范围，从最小瓦级，到最大千瓦级（半导体激光器单模块最大的功率）；

测试软件集成了标准产品组件及功率校准功能，可很好地完成标准产品数据库、测试判定合格标准、产品系列功率校准等一整套生产工艺质量监控数据链；

测试系统还集成了强大的统计查询及分析比较功能，可大大方便生产工艺及研发管理；

设备外观简洁大方，符合工业化设计。